交流阻断(或反偏)耐久性试验是在一定温度下,对半导体器件施加阻断(或反偏)电压,按照规定的时间,从而对器件进行质量检验和耐久性评估的一种主要试验方法。
一般情况下,此项试验是对器件在结温(Tjm ℃)和规定的交流阻断电压或反向偏置电压的两应力组合下,进行规定时间的试验,并根据抽样理论和失效判定依据,确认是否通过, 同时获相关试验数据。
该系统符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、JEDEC标准试验要求。

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经营模式:工厂
所在地:陕西省 西安市
主营产品:半导体分立器件测试系统,功率器件图示系统,IGBT动静态参数测试系统,IPM测试系统,功率循环测试系统,雪崩耐量测试系统,浪涌测试系统,热阻测试系统
交流阻断(或反偏)耐久性试验是在一定温度下,对半导体器件施加阻断(或反偏)电压,按照规定的时间,从而对器件进行质量检验和耐久性评估的一种主要试验方法。
一般情况下,此项试验是对器件在结温(Tjm ℃)和规定的交流阻断电压或反向偏置电压的两应力组合下,进行规定时间的试验,并根据抽样理论和失效判定依据,确认是否通过, 同时获相关试验数据。
该系统符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、JEDEC标准试验要求。