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• 型号/规格：SIS 2000

产品描述:类型白光干涉仪品牌SNU 型号SIS 2000品种其他干涉仪   测量范围200×200×100（mm）测量分辨率0.1nm 用途TFT产业、半导体、MEMS、高校科研、精密加工 基本信...

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• 型号/规格：1510

产品描述:类型白光干涉仪品牌台智 型号1510品种其他干涉仪 测量范围400um用途晶圆,精密机电 产品特点及用途  结合光学显微镜与白光干涉仪功能的扫描式白光干涉显微镜，...

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• 型号/规格：QY-P-150, QY-P-200

产品描述:类型平面干涉仪品牌MYT 型号QY-P-150, QY-P-200品种激光干涉仪 测量范围平面测量分辨率高分辨率黑白显示器（10寸） 近工作距离350X280X800mm（mm） 用途平面类光学元件（包括玻璃、金属、陶...

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• 型号/规格：XL80

产品描述:类型激光干涉仪品牌Renishaw 型号XL80测量范围0 - 80 metres 测量分辨率0.001 um  技术参数系统: &plun;0.5ppm (0~40 ℃)整个工作范围)激光稳频:&plun;0.05ppm分...

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• 型号/规格：5530A

产品描述:类型激光干涉仪品牌安捷伦 型号5530A品种激光干涉仪

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• 型号/规格：SUN-FCI2010

产品描述:SUN-FCI2010干涉仪主机采用的是650nm的高功率LED窄带光源,能够使用户方便快捷的得到干涉图像。随机配有两个干涉夹具（2.5mm通用型，1.25mm通用型）能够测量几乎的光纤连接器。

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• 型号/规格：AK

产品描述:AK系列激光干涉仪

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• 型号/规格：FPSI-1550-C7.5

产品描述:类型激光扫描干涉仪品牌法珀激光 型号FPSI-1550-C7.5品种激光干涉仪 测量范围工作波长1550nm测量分辨率精细常数大于200 近工作距离自由光谱范围7.5GHz（mm） 用途分析、监测光通讯技术中的E...

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• 型号/规格：JDS-1

产品描述:类型接触式干涉仪品牌宝棱 型号JDS-1品种其他干涉仪 测量范围5-20μm测量分辨率0.02 μm 用途采用量块或标准件借以高的比较方式的立式精密长度计量仪器，  ...

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• 型号/规格：ML10激光干涉仪

产品描述:类型激光干涉仪品牌雷尼绍renishaw 型号ML10激光干涉仪品种激光干涉仪 测量范围0测量分辨率0 近工作距离0（mm） 用途生产车间、实验室  激光干涉仪检测系统： ML1...

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• 型号/规格：E1738A

产品描述:类型激光干涉仪品牌安捷伦Agilen 型号E1738A品种激光干涉仪 测量范围0~40m测量分辨率0.4PPM 近工作距离0.11（mm） 用途供应安捷伦激光干涉仪选件 The Agilent E1...

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• 型号/规格：XL-80

产品描述:类型激光干涉仪品牌雷尼绍RENISHAW 型号XL-80品种激光干涉仪 测量范围0-80M测量分辨率0.001UM 近工作距离1（mm） 用途加工中心机 XL-80激光测量系统新型Renishaw...

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• 型号/规格：SIS 1200

产品描述:类型白光干涉仪品牌韩国SNU 型号SIS 1200 产品介绍 白光干涉仪SIS系列采用增加相位扫描干涉技术，是专为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度和其他表面参数而设计的微纳米测量...

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• 型号/规格：SIS-2000

产品描述:类型白光干涉仪品牌智泰 型号SIS-2000品种其他干涉仪 测量分辨率0.1nm用途TFT、半导体芯片、材料、微电机系统 仪器特点： 1 、非接触式测量：避免物件受损。 2 、三维...

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• 型号/规格：KF-B

产品描述:类型激光干涉仪品牌科丰芯缘 型号KF-B品种激光干涉仪 测量范围0-40m测量分辨率0.02μm 用途检测机床 双频激光干涉仪主要用作计量中的长度基准，随着机床精...

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• 型号/规格：YT-500

产品描述:类型激光干涉仪品牌美国光动， 型号YT-500品种激光干涉仪  太空型MCV-5000系列激光测量系统美国光动公司的MCV-5000系列是专为大型五轴加工中心完整的体积测量及补偿而设...

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• 型号/规格：MC008-JDS-1

产品描述:本仪器是一种采用量块或标准件借以高的比较方式的立式精密长度计量仪器。主要用于150mm以下块规，亦可用作度的长度和外径的精密测量，是各级计量室的基本长度计量仪器之一。

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